Измерения вносимых потерь в режиме реального времени, без разрыва ODN
Автоматическая установка параметров «Прошел/не прошел», основанных на ODN класса
Идентификация OLT-ID
Интегрированный в корпус микроскоп
Артикул: IL-EI-02-W(Ø1)
Артикул: IL-EI-04-W