VIAVI E8126B - модуль рефлектометра 1310/1550 нм (41/40 дБ) с LS и PM для платформ MTS-6000/8000 цена, купить JD-E8126B в СвязьКомплект

Модуль рефлектометра VIAVI E8126B предназначен для определения физических характеристик оптического волокна и локализации неисправностей. Рефлектометром можно обнаружить следующие неоднородности: сварные соединения, коннекторы, макроизгибы, сплиттеры. OTDR используется для измерения длины волокна, потерь на неоднородностях, отражений на коннекторных соединениях и затухания.

Модуль для рефлектометрических измерений устанавливается в платформы VIAVI:
MTS-6000Av2 (требуется держатель модуля JD-E6100)
MTS-8000v2 (требуется держатель модуля JD-E8100)

Характеристики:

Длины волн: 1310/1550 нм
Динамический диапазон: 41/40 дБ
Ширина импульса: 5 нс - 20 мкс
Мертвая зона по событиям: 0.65 м
Мертвая зона по потерям: 2 м
Тип оборудования: модуль для платформ VIAVI MTS-6000 и MTS-8000
Особенность: для установки в платформу требуется дополнительный держатель

Технические характеристики модуля рефлектометра VIAVI E8126B:

Длина волны¹, нм (зависит от модели)	1310/1550
Динамический диапазон², дБ	41/40
Ширина импульса	5 нс - 20 мкс
Мертвая зона по событию³, м	0.65
Мертвая зона по затуханию⁴, м	2
Мертвая зона от сплиттера с потерями 15 дБ, м	25
Измеритель мощности через OTDR порт
Длины волн⁵	1310/1490/1550/1625 нм
Точность⁶	±0.5 дБ при -30 дБм
Диапазон мощности	-3 до -55 дБм
Источник излучения через OTDR порт⁷
Длины волн, нм	1310/1550
Выходная мощность	-3.5 дБм
Стабильность	±0.1 дБ
Режимы излучения⁸	CW, 270 Гц, 330 Гц, 1 кГц, 2 кГц
Общие характеристики
Вес	примерно 500 г (1.1 lb)
Габариты	213 x 124 x 32 мм (8.38 x 4.88 x 1.26 дюймов)
Безопасность лазера	Class 1
Показатель переломления	1.30000 до 1.70000 с шагом 0.00001
Точки выборки	до 256 000
Измерение длины
Режим	Автоматический или по двум маркерам
Единицы измерения	Километры, метры, футы и мили
Отображаемый диапазон	Одномод: 0.1 - 400 км
Разрешение дисплея	1 см
Разрешение курсора	от 1 см
Разрешение выборки	от 4 см
Точность	Одномод: ± 0.75 м ± Разрешение выборки ± 1.10^-5 x длину (не включая неопределенности показателя переломления)
Измерение потерь
Режим	Автоматический, ручной, по 2 или по 5 точкам и LSA
Разрешение	0.001 дБ
Линейность	Одномод: ± 0.03 дБ/дБ
Порог	0.01 до 4.99 дБ с шагом 0.01 дБ
Измерение отражения и ORL
Режим	Автоматический или ручной
Точность	± 2 дБ
Разрешение	0.01 дБ
Порог	–11 до –99 дБ с шагом 1 дБ

^1. Лазер при температуре 25°C и ширине импульса 10 мкс.
^2.Разница между экстраполированным уровнем обратного рассеяния в начале уровня волокна и уровнем шума RMS (SNR = 1) после усреднения 3 мин с использованием наибольшей ширины импульса.
^3.Измеряется на ± 1,5 дБ ниже пика ненасыщенного отражающего события с использованием кратчайшей ширины импульса.
^4.Измерено ± 0,5 дБ от линейной регрессии, коннектор FC / UPC и самый короткий импульс.
^5.1625 нм не доступно в модуле 8138C-65.
^6. На калиброванных длинах волн.
^7. На калиброванных длинах волн, многомодовый источник (850 нм) соответствует стандарту IEC 61280-1-4.
^8. Вычесть 3 дБ в режиме модуляции (270 Гц / 330 Гц / 1 кГц / 2 кГц).

Вы можете купить VIAVI E8126B - модуль рефлектометра 1310/1550 нм (41/40 дБ) с LS и PM для платформ MTS-6000/8000 в компании «СвязьКомплект» по выгодной цене. VIAVI SOLUTIONS JD-E8126B : описание, фото, характеристики, инструкции, отзывы.
Смотрите аналоги JD-E8126B в категории: Рефлектометры оптические, OTDR модули к платформам VIAVI MTS-6000v2, MTS-6000Av2, MTS-8000v2

VIAVI E8126B – это модуль рефлектометрических измерений для платформ MTS-6000, 6000A, 6000v2 и MTS-8000, 8000v2.

длины волн: 1310/1550 нм
динамический диапазон: 41/40 дБ
встроенный источник непрерывного излучения LS (работает на длине волны OTDR)
встроенный измеритель оптической мощности PM (работает на длине волны OTDR)

Цель измерений - определение и локализация неисправностей и неоднородностей на оптическом волокне таких как: соединение коннекторов, сварка, макроизгиб, сплиттер, обрыв или любые другие неоднородности, на которых затухает мощность сигнала.

Результат измерений - рефлектограмма, отражающая зависимость затухания оптического сигнала от дальности его распространения с указанием встречающихся неоднородностей, расстоянием до них и размером потерь.