Измерения вносимых потерь в режиме реального времени, без разрыва ODN
Автоматическая установка параметров «Прошел/не прошел», основанных на ODN класса
Идентификация OLT-ID
Интегрированный в корпус микроскоп
Предоставляется по запросу
Под заказ
Предоставляется по запросу
Под заказ
Предоставляется по запросу
Под заказ
Предоставляется по запросу
Под заказ
Предоставляется по запросу
Под заказ
Предоставляется по запросу
Под заказ
Предоставляется по запросу
Под заказ
Предоставляется по запросу
Под заказ
Предоставляется по запросу
Под заказ
Предоставляется по запросу
Под заказ
Предоставляется по запросу
Под заказ
Предоставляется по запросу
Под заказ
Предоставляется по запросу
Под заказ
Предоставляется по запросу
Под заказ
Предоставляется по запросу
Под заказ
Предоставляется по запросу
Под заказ
Предоставляется по запросу
Под заказ
Предоставляется по запросу
Под заказ
Предоставляется по запросу
Под заказ
Предоставляется по запросу
Под заказ
Предоставляется по запросу
Под заказ
Предоставляется по запросу
Под заказ
Артикул: JD-SCTP-B-P15
Артикул: JD-SCTPC-A-P16
Артикул: JD-SCTP-A-P19
Артикул: JD-SCTP-A-P15
Артикул: JD-SCTPC-B-P16